SOLUTION
배터리 검사 분야
(Battery Test)
자동차 관련 검사 분야 (Automotive Test)
전기/소재 특성 측정 분야 (Electric/Material Test)
측정자동화
(ATE)
PRODUCT
SYSTEM
Battery Test System
Automotive Test System
Electric/Material Test System
Automated Test (ATE)
H/W
RF Switch System
Probe Station
Inter Connection
- Giga-probe(DVT)
- Adaptor/Connector/Cable
Jig & Test Fixture
S/W
J-Link 측정자동화 프로그램
- J-Link Studio
- J-Link Dielectric(유전율)
- J-Link LCR
- J-Link DMM
- J-Link PS
- J-Link Customized
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Product
SYSTEM
Hardware (H/W)
RF Switch System
• J-Link JSS 스위치 시스템
• Switching Solutions Bitifeye
Probe Station
• J-Link JPB Series
• Wentworth(프로브스테이션)
- S200FA & S300FA
- S200FA-HV
- M200FA & M300FA
- A200
- S200 & S300
- A200D
- S200D
- 사용자 주문형
- COMPASS
Inter Connection
• Giga-probe(DVT)
• J-Link JCO 커넥터
• J-Link JAD 어댑터
• J-Link JCA 케이블
Softdware (S/W)
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사용자 주문형 프로브 스테이션
Product
Hardware (H/W)
Probe Station
Wentworth(프로브 스테이션)
사용자 주문형 프로브 스테이션
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개요
• 50년이 넘는 경험을 바탕으로 맞춤형 및 통합 웨이퍼 프로빙 솔루션을 만드는 Wentworth의 능력은 타의 추종을 불허합니다.
• Wentworth의 광범위한 표준 웨이퍼 프로브 스테이션은 대부분의 반도체 테스트 시나리오를 다루는 다양한 옵션 및 액세서리를 사용하여 필요에 맞게 구성되도록 설계되었습니다.
• 만일, 제공되는 프로브스테이션이 귀하의 응용 분야에 충분하지 않은 경우, 당사는 저렴한 비용으로 특정 요구 사항을 충족하도록 맞춤형 웨이퍼 프로빙 솔루션을 설계합니다.
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제공 가능한 맞춤형 솔루션 분야
• MEMS
• High voltage
• Photonics
• Compound semiconductors
• Flexible and printed electronics
• Optoelectronics including VCELs devices and MicroLED
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기 개발된 주문형 프로브 스테이션의 예제
• 12인치 적분구의 Dual-stage 프로버