SOLUTION
배터리 검사 분야
(Battery Test)
자동차 관련 검사 분야 (Automotive Test)
전기/소재 특성 측정 분야 (Electric/Material Test)
측정자동화
(ATE)
PRODUCT
SYSTEM
Battery Test System
Automotive Test System
Electric/Material Test System
Automated Test (ATE)
H/W
RF Switch System
Probe Station
Inter Connection
- Giga-probe(DVT)
- Adaptor/Connector/Cable
Jig & Test Fixture
S/W
J-Link 측정자동화 프로그램
- J-Link Studio
- J-Link Dielectric(유전율)
- J-Link LCR
- J-Link DMM
- J-Link PS
- J-Link Customized
Metrics
PORTFOLIO
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TECHNOLOGIES
특허
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Product
SYSTEM
Hardware (H/W)
RF Switch System
• J-Link JSS 스위치 시스템
• Switching Solutions Bitifeye
Probe Station
• J-Link JPB Series
• Wentworth(프로브스테이션)
- S200FA & S300FA
- S200FA-HV
- M200FA & M300FA
- A200
- S200 & S300
- A200D
- S200D
- 사용자 주문형
- COMPASS
Inter Connection
• Giga-probe(DVT)
• J-Link JCO 커넥터
• J-Link JAD 어댑터
• J-Link JCA 케이블
Softdware (S/W)
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PEGASUS™ S200FA-HV
Product
Hardware (H/W)
Probe Station
Wentworth(프로브 스테이션)
PEGASUS™ S200FA-HV
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개요
• 고전압프로빙을 위한 세미오토매틱 타입의 분석용 프로브 스테이션
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파워디바이스의 테스트 용도
• High current probing for DC and pulsed
• Kelvin sense measurements (source & chuck)
• Low CRes reverse side contact (drain/source)
• Suitable for handling thin wafers
• Low leakage/high voltage
• Safety for high current/high voltage measurements
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SPECIFICATIONS
• Voltage : 3 kV (triax), 10 kV (coax)
• Current : 200 Amps (pulsed)
• Leakage : <1 pA (3 kV)
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HV PROBE NOISE VS TEMPERATURE
• Temperature Noise
• +25 °C 100 fA
• +200 °C 100 fA