Solution
전기/소재 특성 시험 장비 (Electric/Material Test)
| 반도체 IC칩 특성 검사장비 | ||
| 이미지 | 개요 | 특징 |
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반도체 IC칩의 전기적 특성을 인가 전압(V)에 따른 전류(I)로 측정하는 다수 채널 I-V Curve 측정 장비 | • 매트리스 구조로 임의 측정 핀에 전압 혹은 전류를 인가 하여 특성을 측정 • 다양한 IC를 측정할 수 있도록 Socket 변경 방식으로 구현 |
| 유전율(Dielectric) 검사 장비 | ||
| 이미지 | 개요 | |
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여러 종류의 특성을 가진 물질들의 유전율을 쉽고 간편하게 자동측정 해 주는 시스템으로서, ㈜제이스가 개발 및 공급하고 있습니다. | |
| 임피던스/TDR 측정 시스템 | ||
| 이미지 | 효율적이고 쉬운 프로빙 | |
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• PCB에 직접 Probing • Probe의 Bandwidth와 최대/최소 Pitch를 고려 • Single/Differential Type Probe |
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| CT100B 케이블/TDR 분석기 | ||
| 이미지 | 개요 | 특징 |
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항공기/선박/발전소 등 정밀하고 복잡한 케이블들의 특성을 분석하고 검사하는 최고 성능의 측정기 | • 업계 최고의 케이블 고장 지점 탐지 능력 : 상승시간 최소 60p ps의 스텝 펄스와 16 bit AD 분해능으로 케이블의 고장 현상을 정밀하게 포착 • 업계 최고의 0.072 mm 커서 분해능과 9 mm 임피던스 변화 분해능으로 PCB, 케이블, 커넥터의 고장점을 정확히 포착 • 케이블 전체 또는 부분을 스캔하여 수백만 포인트로 저장된 데이터는 장비와 전용 소프트웨어에서 차후 분석, 비교가 가능하여 케이블과 커넥터 고품질 유지보수가 가능 |
