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| Multi Channel IV Curve Test System J-IVTM4000 Series

home Product System Electric/Material Test System Multi Channel IV Curve Test System J-IVTM4000 Series

| 개요

  • • 반도체 IC칩의 전기적 특성을 인가 전압(V)에 따른 전류(I)로 측정하는 다수 채널 I-V Curve 측정 장비

| 특징

  • • 매트리스 구조로 임의 측정 핀에 전압 혹은 전류를 인가 하여 특성을 측정
  • • 다양한 IC를 측정할 수 있도록 Socket 변경 방식으로 구현

| 제품 사양

구성내용 사양
동작 형태 자동 / 수동
Input Range Voltage Max. 50 V
Current Max. 1 A
Output Range Voltage Max. 50 V
Current Max. 1 A
측정가능 Point 120 point
측정방식 4 wire
Main Controller 산업용 Windows 10 (64 Bit), PC
Display 22” Touch
UPS 30분 이상 유지
통신 IEEE802.3(LAN), TCP/IP, CAN, RS-485, RS-232C
센서류 온도/습도/연기 감지기
동작 온도 범위 10 ~ 40 ℃
입력 전원 220 V

| 이미지

| 블록 다이어그램

| 주요 기능

  • • 전압 특성 검사
  • • 전류 특성 검사
  • (주)제이스
  • 본      사경기도 성남시 중원구 연꽃로20번길14 제이타운
  • 대전지사대전광역시 대덕구 대화로 120 가온비즈타워 507호
  • 솔루션 사업부 & 부설 연구소
  • 경기도 성남시 중원구 사기막골로99 센트럴비즈타워2차 517호
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