SOLUTION
배터리 검사 분야
(Battery Test)
자동차 관련 검사 분야 (Automotive Test)
전기/소재 특성 측정 분야 (Electric/Material Test)
측정자동화
(ATE)
PRODUCT
SYSTEM
Battery Test System
Automotive Test System
Electric/Material Test System
Automated Test (ATE)
H/W
RF Switch System
Probe Station
Inter Connection
- Giga-probe(DVT)
- Adaptor/Connector/Cable
Jig & Test Fixture
S/W
J-Link 측정자동화 프로그램
- J-Link Studio
- J-Link Dielectric(유전율)
- J-Link LCR
- J-Link DMM
- J-Link PS
- J-Link Customized
Metrics
PORTFOLIO
개발이력
TECHNOLOGIES
특허
소프트웨어 저작권
인증
배터리 시험/검사 서비스
INQUIRY
견적문의
기술상담
기타문의
공지사항
JAYS PROFILE
회사 개요
사업분야 및 주요업무
조직도
오시는 길
Quick Menu
Product
SYSTEM
Hardware (H/W)
RF Switch System
• J-Link JSS 스위치 시스템
• Switching Solutions Bitifeye
Probe Station
• J-Link JPB Series
• Wentworth(프로브스테이션)
- S200FA & S300FA
- S200FA-HV
- M200FA & M300FA
- A200
- S200 & S300
- A200D
- S200D
- 사용자 주문형
- COMPASS
Inter Connection
• Giga-probe(DVT)
• J-Link JCO 커넥터
• J-Link JAD 어댑터
• J-Link JCA 케이블
Softdware (S/W)
|
PEGASUS™ M200FA & M300FA
Product
Hardware (H/W)
Probe Station
Wentworth(프로브 스테이션)
PEGASUS™ M200FA & M300FA
|
개요
• 매뉴얼 타입의 분석용 프로브 스테이션 : 200 mm 와 300 mm 웨이퍼용
|
주요 기능
• Pegasus™ M200FA supports full and partial wafers to 200 mm
• Pegasus™ M300FA supports full and partial wafers to 300 mm
• Robust, highly stable platform for reliable and repeatable sub-micron probing
• Temperature probing from -60 °C to +400 °C
• Front facing controls with fine and coarse adjustment
• Large area platen with height adjustment and gross lift
• Fine lift chuck mechanism
|
응용 분야
• Ideal for high power and ultra fast I.V./C.V. probing
• Failure analysis
• Design verification
• Thermal characterization
• Parametric testing (DC to low level)