SOLUTION
배터리 검사 분야
(Battery Test)
자동차 관련 검사 분야 (Automotive Test)
전기/소재 특성 측정 분야 (Electric/Material Test)
측정자동화
(ATE)
PRODUCT
SYSTEM
Battery Test System
Automotive Test System
Electric/Material Test System
Automated Test (ATE)
H/W
RF Switch System
Probe Station
Inter Connection
- Giga-probe(DVT)
- Adaptor/Connector/Cable
Jig & Test Fixture
S/W
J-Link 측정자동화 프로그램
- J-Link Studio
- J-Link Dielectric(유전율)
- J-Link LCR
- J-Link DMM
- J-Link PS
- J-Link Customized
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Product
SYSTEM
Hardware (H/W)
RF Switch System
• J-Link JSS 스위치 시스템
• Switching Solutions Bitifeye
Probe Station
• J-Link JPB Series
• Wentworth(프로브스테이션)
- S200FA & S300FA
- S200FA-HV
- M200FA & M300FA
- A200
- S200 & S300
- A200D
- S200D
- 사용자 주문형
- COMPASS
Inter Connection
• Giga-probe(DVT)
• J-Link JCO 커넥터
• J-Link JAD 어댑터
• J-Link JCA 케이블
Softdware (S/W)
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PEGASUS™ S200D
Product
Hardware (H/W)
Probe Station
Wentworth(프로브 스테이션)
PEGASUS™ S200D
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개요
• 반자동 양면 프로브 스테이션 : 200 mm 웨이퍼용
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주요 기능
• Simultaneous, double-sided probing of up wafers up to 200 mm (8″)
• Unique caliper arm and probe needle design
• Adjustable wafer size carriers
• Tuneable gram force and speed settings
• TTL, Ethernet (10BaseT), RS232 and IEEE 488 control interface
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응용 분야
• Double-sided testing of discrete power semiconductors, metal-oxide semiconductors and insulated-gate bipolar transistor (IGBT) devices
• Testing of silicon based devices, newer wide-band gap (WBG) materials and compound semiconductors
• Test correlation